TSY-35型塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀
TSY-35型塑料薄膜和薄片測(cè)厚儀薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試，還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)、試紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。
產(chǎn)品參數(shù)
1、分度值0.001mm 量程0-1mm
2、上下測(cè)量面為平面時(shí)，測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.5N到1.0N之間。
3、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí)，上測(cè)量面的曲率半徑在15-50（mm）時(shí)，其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間。
4、測(cè)量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um

薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試，還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)、試紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。
產(chǎn)品參數(shù)
1、分度值0.001mm 量程0-1mm
2、上下測(cè)量面為平面時(shí)，測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.5N到1.0N之間。
3、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí)，上測(cè)量面的曲率半徑在15-50（mm）時(shí)，其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間。
4、測(cè)量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試，還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)、試紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。
產(chǎn)品參數(shù)
1、分度值0.001mm 量程0-1mm
2、上下測(cè)量面為平面時(shí)，測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.5N到1.0N之間。
3、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí)，上測(cè)量面的曲率半徑在15-50（mm）時(shí)，其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間。
4、測(cè)量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um薄膜測(cè)厚儀適用于塑料薄膜、薄片的厚度測(cè)試，還可適用于紙張、紙板的厚度測(cè)試、箔片、硅片、金屬片的厚度測(cè)、試紡織材料的厚度測(cè)試、固體電絕緣體的厚度測(cè)試。
產(chǎn)品參數(shù)
1、分度值0.001mm 量程0-1mm
2、上下測(cè)量面為平面時(shí)，測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.5N到1.0N之間。
3、上下測(cè)量面為凸/平面時(shí)，上測(cè)量面的曲率半徑在15-50（mm）時(shí)，其測(cè)量面對(duì)試樣施加的負(fù)荷為0.1N到0.5N之間。
4、測(cè)量精度
100um以內(nèi) 精度1um
100um到250um 精度2um
250um以上 精度3um

合作單位：